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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO|現(xiàn)貨的詳細(xì)資料：
泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO|現(xiàn)貨
Surtronic Duo II 手持式表面粗糙度測量儀被廣泛用于生產(chǎn)現(xiàn)場、工業(yè)廠房和檢測室。Surtronic Duo II 可用于評估地面的安全性，也可幫助地面材料制造商控制生產(chǎn)過程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易于使用，并且只需很少的培訓(xùn)。Surtronic Duo II 數(shù)字式表面粗糙度測量儀專門用于測量表面粗糙度，可與 HSE 滑倒評估軟件結(jié)合使用，以檢查地面的粗糙度。Surtronic 表面粗糙度測量儀的分辨率為 0.01 µm（0.4 µin），采用的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)為 ISO 4287。
泰勒霍普森duo|surtronic DUO
表面粗糙度基礎(chǔ)：每個組件表面都會有一些紋理形狀因結(jié)構(gòu)和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預(yù)測組件在使用過程中的行為，有必要使用表面紋理參數(shù)對表面特征進(jìn)行量化。
表面紋理參數(shù)可分為三個基本類型:振幅參數(shù)-測量表面偏差的垂直特征間距參數(shù)-測量表面偏差的水平特征混合參數(shù)-間距參數(shù)和振幅參數(shù)的組合樣本長度-輪廓會劃分為樣本長度|，它的長度足以容納進(jìn)行可靠的統(tǒng)計所需的數(shù)據(jù)量。對于粗糙度和波紋度分析，樣本長度等于選擇的截止長度。截止長度(Lc) -截止長度是使用電子或數(shù)學(xué)方法移除或減少不必要的數(shù)據(jù)以查看重點區(qū)域的波長的濾波器。樣本長度也稱為截止長度。測定長度-用于評估要測定輪廓的X軸方向的長度。測定長度可能包含-一個或多個樣本長度。對于原始輪廓，測定長度等于樣本長度。標(biāo)準(zhǔn)一適用時，泰勒*霍普森設(shè)備會遵從ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的程序。測量原理：通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅(qū)動裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測針劃過波峰和波谷時，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時計算表面粗糙度參數(shù)。
